储能电容在电路中维持时间的计算方法
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储能电容在电路中维持时间的计算方法
设电路正常工作时的输入功率为
P<
/p>
,储能电容的容量为
C
,其两端的电压为
U1
,则电容储存的能量为
W1
=C
(
U1**2
)
< br>/2
,
其中
U1
**2
表示
U1
的平方
当输入电源掉电后,经过时间
t,
电容两端的电压为
U2
,此时电容剩余的能量为
W2=C
(
U2**2
)
/2
,
在这一过程中储能电容释放的能量
W=
W1-W2=C
(
U1**2-U2**2
)
/2
,
它应该等于电路维持正常工作所需的能量
W=Pt,
(即输入功率乘以时间)
所以有
C
(<
/p>
U1**2-U2**2
)
/2=Pt<
/p>
,
由此就可以得到电路维持时间
t
所需的最小电容量为
C=2Pt/
(
U1**2-U2*
*2
)
.
在实际应用中,
U2
是电路能够正常工作的最低输入电压
.
举例:
若电路正常工作时的输入电压为
28V
(
U1
),输入功率为
30W
(
P
),能够正常工作的最低输入电压为
18V
(
U2
),要
求输入电源掉电
50
毫秒(
t
)时电路仍然能够工作,则所需储能电容的最小的电容量为
C=2 Pt/
(
U1**2-U2*
*2
)
=
2´30´50/(
28**2-18**2
)
=3000/
(
784-3
24
)
=6.522mF=6522uF
一
.
什么是
OC
、
OD
集电极开路门
(
集电极开路
OC
或源极开路
OD)
open-dra
in
是漏极开路输出的意思,
相当于集电极开路
(open-collector)
输出,
即
ttl
中的集电极开路(
oc
< br>)输出。一般用于线或、线与,也有的用于电流驱动。
open-drain
是对
mos
p>
管而言,
open-collector
是
对双极型管而言,
在用法上没啥
区别。
开漏形式的电路有以下几个特点:
1
.
利用外部电路的驱动能力,
减少
IC
内部的驱动。
或驱动比芯片电源电压高的
负载
. <
/p>
2.
可以将多个开漏输出的
Pin
,连接到一条线上。通过一只上拉电阻,在不增加
任何器件的情况下,
形成
“
与逻辑
”
关系。这也是
I2C
,
SMBus<
/p>
等总线判断总线占
用状态的原理。
如果作
为图腾输出必须接上拉电阻。
接容性负载时,
下降延是芯
片内的晶体管,是有源驱动,速度较快;上升延是无源的外接电阻,速度慢。如
果要求速度高电阻选择要小,
功耗会大。
所以负载电阻
的选择要兼顾功耗和速度。
3.
可以
利用改变上拉电源的电压,
改变传输电平。
例如加上上拉电阻就
可以提供
TTL/CMOS
电平输出等。
4.
开漏
Pin
< br>不连接外部的上拉电阻,则只能输出低电平。一般来说,开漏是用来
连接不同电平
的器件,匹配电平用的。
5.
正常的
CMOS
输出级是上、下两个管子,把上面的管子去掉就是
p>
OPEN-DR
AIN
了。这种输出的主要
目的有两个:电平转换和线与。
6
.
由于漏级开路,
所以后级电路必须接一上拉电阻,
上拉电阻的电源电压就可以
决定输出电平。这样你就可以进行任意电平的转
换了。
7.
线与功能主要用于有多个
电路对同一信号进行拉低操作的场合,
如果本电路不
想拉低,就
输出高电平,因为
OPEN-DRAIN
上面的管子被拿掉,高
电平是靠外
接的上拉电阻实现的。(而正常的
CMOS
输出级,如果出现一个输出为高另外
一个为低时,等于电源短路。)
p>
-DRAIN
提供了灵活的输出方式,但是也有其弱点,就是带来上升沿的
延时。
因为上升沿是通过外接上拉无源电阻对负载充电,
所以当电阻选择小时延
时就小,但功耗大;反之延时大功耗小。所以如果对延时有要求,则建议用下降
沿输出。
二
< br>.
什么是线或逻辑与线与逻辑?
p>
在一个结点
(
线
)
上
,
连接一个上拉电阻到电源
VCC
或
VDD
和
n
个
N
PN
或
NMOS
晶体管的集电极
C
或漏极
D,
这些晶体管的发射极
E
或源极
S
都接到地线上
,
只要有一个晶体管饱和
,
这个结点<
/p>
(
线
)
就被拉到
地线电平上
.
因为这些晶体管的基极注入电流
(NPN)
或栅极加上高电
平
(NMOS),
晶体管就会