ATE测试原理

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2021年02月21日 09:22
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2021年2月21日发(作者:展开属天的翅膀)


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ATE


测试原理



一简介


:


在线测试机


(IN CIRCUIT TESTER)


是经由量测电路板上所有零件


,


包括电阻、电容 、电感、二


极管、晶体管、


FET


、< /p>


SCR



LED



IC



,


检测出电路板产品的各种缺点诸如



:


线路短路、断


路、


缺件、


错件、


零件不良或装配不良等


,


并明确地指出缺点的所在位置


,


帮助使用者确保产品的


质量


,


并提高不良品检修效率


.


它还率先使用可用数亿次开关的磁簧式继电器


(REED RELAY),


是当今测试涵盖率最高


,


测试最稳定


,


使用最方便


,


提供数据最齐全的在线测试机


.





.


隔离< /p>


(GUARDING)


测试原理


:


在测试


ACT


测试最大的特点就是使用


GUARDING


的技巧


,


它把待测组件隔离起来


,


而不受它线

< br>路的影响


.(


如下列图示


).< /p>


计算机程序自动选择恰当的隔离点



可选择多个


.


























V

















R1






















ADC


































R





























I









































R2




.


电阻的量测方法


:




(1)


定电流测量法


:






使用定电流测量法


,


计算机程序会根据待测 电阻的阻值自动设定电流源的大




.





























V







A




























ADC










R






































B











































R=V/I





(2)


定电压测量法


:






当待测电阻并联大电容时


,


若用定电流测量 法


,


大电容的充电时间过长


,


然而使用定电压测量法


可以缩短测试时间


.





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C


大电容

































R
















(3)


相位测量法


:





当电阻 与电容并联时


,


如果用电流量测法无法正确量测时


,


就需要用相位量测法来量测来做测试


.

< p>
此法利用交流电压为信号源


,


量测零件两端的电压 与电流的相位差


,


藉以计算出各别的电阻抗

,


电容


抗或感抗


.

















R







C

















































R











L






(4)


小电阻的量测


:



一般小电阻量测


(0.1

< p>
Ω


~2


Ω


)



可以把它当成


JUMPER


的方式测量但只可量测有无缺件


.


若需


较精确的量测,就须用四端量测


.


原理如下:


问小电阻如何量测



?





信号源和量测各有自己的回路,因此可准确量测


RX


上的压降。



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应用:小电阻如


0.1


Ω

< p>
~10


Ω


,小电感,小电容量测时会受到


cable


和探针接触不良的影响,而


造成



测试不稳,而四线量测就可以解决这些问题。



由二线式改为四线式量测法的修改说明如下:




a. relay board


需做 以下修改,


JA



JB



JC


跳线拿掉,



使之开路


OPEN





b. JA0



JA1



JA2



JA3



JB0



JB1



JB2



JB3



JG0



JG1



JG2



JG3




原本短路情况为





将其断开,短路另一侧。















d.


程序方面须做如下设定:



Device


R1


STDVAL




ACTVAL


0.1




c.


此时


Relay board< /p>


只剩下


32


点,



因为第二连接器已被当成


sense


使 用。



+%


30%


-%


30%


MD


D1


A


1


B


2


G





e.


在 此设定下,电阻值最小可量测到


0.01


Ω





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.


电容量 测


:




( 1)


交流定电压源量测


:


< p>


(


此测试方法与以上电阻测试方法类同


)




< p>
(2)


直流定电流源


:




(


此测试方法与以上电阻测试方法类 同


)




( 3)


相位测量法


:


< br>


(


此测试方法与以上电阻测试方法类同


)


11.


(4)


漏电流量测 :




假设


C 1



100uF25V


,将程序修改为


STEP 2


,按


F9


测试量测电容之正常漏电流,



并将它填入


STDVAL


,如果


C 1


反向则漏电流会增大



STEP


1


2


DEVICE


C1


C1


STDVAL


0


1.4mA


ACTVAL


100uF


10V


+%


30


30


-%


30


30


MD


DT


CM


A


10


10


B


20


20



注:每个电容值耐压都有不同,所以在


ACTVAL


之电压是 不一定的。



(5)


三端点量测:




此方法用于量测电解电容,此量测法须于电容上端栽针


(


如图


)


,程序修改 如下:



STEP


3


4


DEVICE


C2


C2


STDVAL


0


0.1


ACTVAL


10uF


0.2V


+%


30


30


-%


30


0


MD


DC


LV


T


0


10


A


10


30


B


20


10


G


0


20





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.


二极管量测法


:



(1).DIODE


一般量测


:















(2).


两并联

DIODE


量测法


:







二极管并联须用


CM mode


量测。程序须设定如下:



STEP


1


2


Device


D1


D1


Lc


A1


A1


STD


0


40mA


ACT


0.7V


0.7V


+%


30


10


-%


30


10


MD


DT


CM


RG


0


0


TM


0


0


A


10


10


B


20


20


STEP2


须加电压


(ACTVAL) 0.6V


左右,调整


ACTVAL


电压 使其电流量到约


40mA









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.


三极体


(F EA)


量测方法


:


FET


可分为二种:


a. JFET



b. MOSFET


空乏型及增强型。



(1)MOSFE T


增强型如图:


程序设定如下:



Device


Q1


Q1


STDVAL


0


0.2


ACTVAL


0.7V


3V


+%


30%


10%


-%



MD


DT


N


A


3


2


B


2


3


G1




1


30%


70%


控制闸极

< p>
(gate)


电压由


2V~3V

< br>直到导通为止,即可测试出来。



(2) JFET. MOSFET


空乏型






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